製造における完璧さへの飽くなき追求の中で、半導体ウェハ上のたった1ミクロンの傷や、バッテリーセルの細い亀裂が、壊滅的な故障を引き起こす可能性があります。従来の人間による検査は、生理学的制約と主観的な判断に限界があり、今日のナノスケールの製造公差に対応するのは困難です。そこで、AI駆動型画像検査システムが究極の品質保証者として登場します。光学的精度とアルゴリズムによる知能を融合させることで、かつては不可能と思われていたことを実現します。

2025/07/28

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