光学選別機の主な検査機能

当社の革新的な検査機器は、電子部品の性能と外観を損なう可能性のある数多くの重大な問題を検出する優れた能力を備えています。コンデンサの場合、当社のシステムは、塗装の剥がれ、はんだブリッジ、汚染、判読不能なマーキング、寸法の不規則性、蓋のずれ、電極の欠損、接着剤の過剰または不足、さらには外観の変形などの欠陥を特定するのに優れています。 

半導体チップに関しても、当社の技術は、部品の紛失や置き忘れ、微細なひび割れや欠けなどのガラス汚染、割れ、剥離層、汚れの蓄積、あらゆる種類の物理的損傷など、潜在的な問題を正確に特定することに長けています。これらの能力により、お客様は厳格な品質基準を維持し、製造リスクを最小限に抑え、最高品質の製品を一貫して提供することができます。

これらの成果の一例として、多くの業界リーダーが、効率的で正確なテストを通じて自社のブランド イメージとエンド ユーザーの体験を保護するという重要な任務を当社に委託しています。当社と提携することで、製品歩留まりの向上、ダウンタイムの削減、全体的なプロセス効率の大幅な向上が実現しました。当社は精​​度と信頼性に注力しており、世界中のハイテク製造環境の頼れるソリューションとして他社とは一線を画しています。